Performance
Manucturing Integrated Circuits ICs 집적 회로 제조

silicon ingot(실리콘 괴)를 슬라이싱 해서 wafer를 만든다
wafer에 패턴을 만든다.(사각형 하나=다이)
wafer를 자르기전에 먼저 테스트
wafer를 자름(Dicer)
die 하나를 테스트
die와 입출력핀을 연결, 이 과정을 본딩과정이라고 함
이후 패키징된 die를 테스트
Integrated Circuit Cost 비용

Cost per die : working하는 die 하나당 비용
Dies per wafer : 단일 wafer에서 생산 가능한 die수 = wafer 면적 / die 면적
Yield : 작동하는 die의 비
Cost per die는 다음과 같이 표현될 수 있다.

yield가 상수면 밑의 그래프가 선형적이어야 한다.

Performance 성능
Response Time and Throughput 반응시간과 처리
상대적 성능 : Performance = 1 / Execution Time로 정의되어왔다.

어떤 요소들이 성능에 영향을 미칠까?
CPU TIME = CPU 클럭 사이클 / 클럭의 속도

성능을 올리려면 클럭 주기를 단축하거나 클럭 속도를 향상시키거나!

이런식으로 계산이 됌
시간 단위
Clock period 주기 (Clock Cycle Time) : 클럭신호가 한번 울리고 되풀이 될때까지의 시간
Clock frequency (Clock rate) 주파수 : 초당 클럭 사이클 수

예시 문제

Cycle = Time * Rate이므로 실전 문제에서도 이렇게 풀면된다!(단위 잘 맞춰서 풀기)
명령어 수와 CPI(Cycles Per Instruction)

Clock Cycle Time : 클럭 주기랑 똑같은 의미
예시 문제

같은 프로그램이라는 것은 같은 명령어수를 의미하므로 계산이 위와 같다.
더 구체적으로..

명령어 유형에 따라 CPI가 다르므로 위와 같이 계산 될 수 있다.

결론

SPEC : 성능 측정에 사용하는 프로그램 중에 유명한 회사 이름